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百检检测流程:
1、电话沟通、确认需求;
2、推荐方案、确认报价;
3、邮寄样品、安排检测;
4、进度跟踪、结果反馈;
5、出具报告、售后服务;
6、如需加急、优先处理;
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2 半导体分立器件失效分析程序和方法GJB3157-1998 3002 内部目检
3 半导体分立器件失效分析程序和方法GJB3157-1998 1001 外部目检
4 半导体分立器件失效分析程序和方法GJB3157-1998 2001 密封
5 半导体分立器件失效分析程序和方法GJB3157-1998 方法3005 扫描电子显微镜检查
6 半导体分立器件失效分析程序和方法GJB3157-1998 方法3003 探针电测试
7 半导体分立器件失效分析程序和方法GJB3157-1998 1002 电性能测试
8 半导体分立器件失效分析程序和方法GJB3157-1998 2003 粒子碰撞噪声检测
9 半导体分立器件失效分析程序和方法 外部目检
10 半导体分立器件失效分析程序和方法 密封
11 半导体分立器件失效分析程序和方法 电性能测试
12 半导体分立器件失效分析程序和方法 探针电测试
13 半导体分立器件失效分析程序和方法 内部目检
14 半导体分立器件失效分析程序和方法 X射线检查
15 半导体分立器件失效分析程序和方法 粒子碰撞噪声检测